Fundamentos de metrología / Ysabel Reyes Ponce...[et.al] por Álvarez Álvarez, María de los Ángeles | Álvarez Prieto, Manuel | Álvarez Vasallo, Luis | Arrieta Rodríguez Raúl Fernando | Arruza Rodriguez, Fernando Antonio | Espinosa Delgado, Gustavo Háreton | Franco Fernández, José Ignacio | García Mustelier, René Jesús | González Denis, Luis Isidro | González Horta, Gilberto | Hernández Leonard, Alejandra Regla | Iglesias Valcarcel, Silvia Juana | Martínez Pérez, Mario | Maury Toledo, Augusto | Navarro Ggonzález, Mirtha Juana | Pedro Valdés, Sandra Claudina | Reyes Vaillant, Osmel | Rodríguez Blanco, Carlos Manuel | Rozsa Iglesias, Hermes | Ruiz Salvador, Angel Rabdel | Walwyn Salas, Gonzalo.
Tipo de material: 
Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción Idioma: Español Idioma del resumen: Español Cuba : Editorial Pueblo y Educación, 2014Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Sede Principal (2)Signatura topográfica: 389.1 / R39c, ...
