Su búsqueda retornó 3 resultados.

Ordenar
Resultados
Modelo de capacitación presencial en metrología básica aplicada en equipos de laboratorio clínico y su implementación dentro de la compañía Annar Diagnostica Import S.A.S. / Leidi Jourley Trujillo Laguna

por Trujillo Laguna, Leidi Jourley | Cano Torres, Guillermo Andrés Asesor.

Tipo de material: Archivo de ordenador Archivo de ordenador; Formato: electrónico Idioma: Español Bogotá D.C. : Universidad ECCI, Electromedicina, Facultad de Ingeniería, 2017Nota de disertación: Trabajo de grado (Tecnólogo en Electromedicina) Facultad de Ingeniería Universidad ECCI 2017 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Sede Principal (1)Signatura topográfica: TEM - 750.

Análisis del déficit de empresas de metrología para el área de equipos biomédicos acreditados por la Onac contra la demanda de IPS públicas y privadas en la ciudad de Bogotá / Juan Sebastián Pardo Olarte

por Pardo Olarte, Juan Sebastián | Cruz Bernal, Ingrid Mercedes Asesor.

Tipo de material: Archivo de ordenador Archivo de ordenador; Formato: electrónico Idioma: Español Bogotá D.C. : Universidad ECCI, Electromedicina, Facultad de Ingeniería, 2016Nota de disertación: Trabajo de grado (Tecnólogo en Electromedicina) Facultad de Ingeniería Universidad ECCI 2016 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Sede Principal (1)Signatura topográfica: TEM - 713.

Análisis del proceso de gestión de los equipos biomédicos asociado al aseguramiento metrológico en el hospital Engativá E.S.E. / Claudia Daniela Olaya Romero, Juan David Hernández Penagos

por Olaya Romero, Claudia Daniela | Hernández Penagos, Juan David | Zapata Flórez, Olman de Jesús Asesor.

Tipo de material: Archivo de ordenador Archivo de ordenador; Formato: electrónico Idioma: Español Bogotá D.C. : Universidad ECCI, Electromedicina, Facultad de Ingeniería, 2016Nota de disertación: Trabajo de grado (Tecnólogo en Electromedicina) Facultad de Ingeniería Universidad ECCI 2016 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Sede Principal (1)Signatura topográfica: TEM - 710.

Páginas